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同科數(shù)電/摸電/EDA綜合實驗系統(tǒng)

簡要描述:TKK-SAE數(shù)電/摸電/EDA綜合實驗系統(tǒng)能夠完成“電路基礎(chǔ)"、“模擬電子技術(shù)"、“數(shù)字電子技術(shù)"、“ISP在系統(tǒng)編程EDA實驗"、“VHDL設(shè)計"、“電子系統(tǒng)綜合設(shè)計"等課程的實驗。

  • 產(chǎn)品型號:TKK-SAE
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2017-05-01
  • 訪  問  量:1878
產(chǎn)品詳情

數(shù)電/摸電/EDA綜合實驗系統(tǒng)

TKK-SAE數(shù)電/摸電/EDA綜合實驗系統(tǒng)能夠完成“電路基礎(chǔ)”、“模擬電子技術(shù)”、“數(shù)字電子技術(shù)”、“ISP在系統(tǒng)編程EDA實驗”、“VHDL設(shè)計”、“電子系統(tǒng)綜合設(shè)計”等課程的實驗。在實驗方式上采用全新理念,保留了經(jīng)典的傳統(tǒng)基礎(chǔ)功能模塊驗證性實驗,增加了對中大規(guī)模復(fù)雜系統(tǒng)的設(shè)計、分析和管理實驗,為學(xué)生提供了二次開發(fā)的良好環(huán)境,加強(qiáng)了學(xué)生對系統(tǒng)設(shè)計概念的培養(yǎng)和實踐,以適應(yīng)電子系統(tǒng)日趨數(shù)字化、復(fù)雜化和大規(guī)模集成化發(fā)展的需要,真正做到學(xué)用結(jié)合,為創(chuàng)新性人才的培養(yǎng)打下良好基礎(chǔ)。

一、TKK-SAE數(shù)電/摸電/EDA綜合實驗系統(tǒng)系統(tǒng)特點:
該實驗裝置具有安全、穩(wěn)定、可讀、可調(diào)整、直觀、靈活和新型等特點,操作簡單方便,裝置運(yùn)行可靠。具有很強(qiáng)的二次開發(fā)功能。 
1、安全性 
人員安全的保護(hù):不論實驗裝置在正常工作或故障狀態(tài)下,不會危及操作人員的人身安全。 
 對誤操作的保護(hù):不會因為誤操作而導(dǎo)致實驗裝置損壞。 
 電源的過流保護(hù):因短路等故障而過流時,可自動切斷實驗裝置電源。 
 電源的電壓保護(hù):電源電壓過高或欠壓時,將自動切斷實驗裝置電源。 
2、直觀性 
實驗裝置功能模塊的主要電氣原理或特征將在面板或電路卡上指示,實驗裝置各功能引腳的符號標(biāo)注在面板上。 
3、靈活性 
實驗裝置采用主板和各模塊分離的設(shè)計,可編程器件焊接在獨(dú)立模塊上。通過選擇模塊可以選擇不同廠家、不同型號、不同規(guī)模的可編程器件,既可適應(yīng)不同的教學(xué)需要,也使系統(tǒng)的功能和規(guī)模擴(kuò)展變得更為方便。 
為了方便實驗操作,減少對實驗儀器儀表的依賴,實驗裝置主板上各部分功能模塊(包括一些基本功能模塊和實驗小工具)幾乎都是相互獨(dú)立的,可以根據(jù)需要選擇模塊進(jìn)行接線。 
實驗裝置提供擴(kuò)展集成插座、面包板和部分必須的分立元件等,留有足夠的接線機(jī)會,也給實驗裝置留有足夠的機(jī)動靈活性。 
4、新穎性 
實驗裝置提供了邏輯可編程實驗平臺和模擬可編程實驗平臺,其中邏輯可編程實驗平臺包括CPLD/FPGA模塊,模擬可編程實驗平臺包括ispPAC模塊。不同模塊使用不同的芯片,根據(jù)需要可選擇不同功能芯片的模塊插接到實驗主板上。 
二、TKK-SAE數(shù)電/摸電/EDA綜合實驗系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo) 
(一)數(shù)字電路功能單元 
1、4×4矩陣鍵盤:矩陣式結(jié)構(gòu),組合按鍵。 
2、8位乒乓開關(guān):開關(guān)量輸入。 
3、十六進(jìn)制8421撥碼盤:提供0~9,A~F 十六進(jìn)制編碼值。 
4、24位開關(guān)量輸出:發(fā)光二極管紅、黃、綠色三組各八只高亮度發(fā)光二極管,含電流驅(qū)動。 
5、6位LED顯示:7段數(shù)碼管靜態(tài)顯示方式6位,動態(tài)顯示方式1-6位均可,含電流驅(qū)動。 
6、有源晶振:4MHz標(biāo)準(zhǔn)時鐘,通過模塊跳線器選擇,向可編程器件的CLK1提供時鐘。 
7、可編程脈沖序列發(fā)生器:由555振蕩器構(gòu)成頻率可調(diào)、脈沖數(shù)可設(shè)置的脈沖序列發(fā)生電路。 
8、單脈沖發(fā)生器:提供加消抖處理單個±脈沖輸入。 
9、邏輯筆:可測量邏輯高低電平、高阻和脈沖狀態(tài)。 
(二)模擬電路功能單元 
1、模擬電路模塊接入?yún)^(qū):可接入各種模擬電路實驗?zāi)K 
2、波形發(fā)生器單元 
輸出波形:方波、三角波、正弦波 
幅值:正弦波:0~14V(14V為峰-峰值,且正負(fù)對稱) 
三角波:0~24V(24V為峰-峰值,且正負(fù)對稱) 
方波:0~24V(24V為峰-峰值,且正負(fù)對稱) 
頻率范圍:分四檔2HZ~20HZ、20HZ~200HZ、200HZ~4KHZ、4KHZ~100KHZ
3、直流信號源單元:雙路±5V、±0.5V、兩檔連續(xù)可調(diào)。 
4、3位半數(shù)字電壓表:測量范圍:-19.99V~+19.99V
(三)EDA實驗功能單元 
1、由數(shù)字電路功能單元、模擬電路功能單元共同組成。 
2、可編程器件模塊(根據(jù)要求選擇) 
(四)擴(kuò)展實驗?zāi)K區(qū) 
1、集成電路擴(kuò)展插座:可插實驗用IC芯片或ispPAC模塊。 
2、面包板單元。 
三、TKK-SAE數(shù)電/摸電/EDA綜合實驗系統(tǒng)實驗內(nèi)容: 
(一)數(shù)字部分基本實驗: 
(l)門電路邏輯功能及測試; (2)組合邏輯電路(半/全加器); 
(3)R-S、D、JK4、觸發(fā)器; (4)三態(tài)輸出觸發(fā)器、鎖存器; 
(5)集成計數(shù)器及寄存器; (6)時序電路測試及研究; 
(7)譯碼器和數(shù)據(jù)選擇器; (8)波形發(fā)生及單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器; 
(9)555時基電路 
可選做如下實驗: 
(10)CMOS門電路測試; (11)門電路的驅(qū)動能力測試; 
(12)MSI加法器實驗; (13)寄存器及其應(yīng)用實驗; 
(14)順序脈沖和脈沖分配器電路; (15)多路模擬開關(guān)及其應(yīng)用實驗; 
(16)四路優(yōu)先判決電路實驗; (17)TS、OC門的功能測試及其應(yīng)用實驗; 
(18)邏輯筆實驗與分析實驗; (19)競爭冒險實驗; 
(20)計數(shù)器MSI芯片的應(yīng)用; (21)施密特觸發(fā)器及其應(yīng)用實驗; 
(22)數(shù)字定時器實驗; (23)電子校音器實驗; 
(24)TTL不同系列芯片性能和參數(shù)的測定實驗;(25)TTL與CMOS相互連接實驗; 
(26)觸發(fā)器應(yīng)用實驗; (27)時序電路應(yīng)用實驗; 
(28)單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器及其應(yīng)用實驗; (29)電壓變換器實驗; 
(30)示波器多蹤顯示接口實驗 
(二)模擬部分實驗內(nèi)容: 
space.gif (51 bytes)(1)分立元件電路實驗 
1、基本單級放大電路; 2、兩級放大電路; 3、負(fù)反饋放大電路; 
4、射級跟隨器; 5、差動放大電路; 6、比例求和運(yùn)算放大電路; 
(2)集成運(yùn)算放大電路 
7、模擬運(yùn)算電路 
①電壓跟隨器 ②反向比例放大器 ③同相比例放大器 
④反相求和比例放大器 ⑤雙端輸入求和放大電路; 
8、積分與微分電路 
①積分電路 ②微分電路 ③微積分電路; 
9、波形發(fā)生電路 
①方波發(fā)生器 ②占空比可調(diào)的矩形波發(fā)生器 
③三角波發(fā)生電路 ④鋸齒波發(fā)生電路; 
10、有源濾波器 
①低通濾波器 ②高通濾波器 ③帶阻濾波器; 
11、電壓比較器 
①過零比較器 ②反相滯回比較器 ③同相滯回比較器; 
(3)其它實驗 
12、集成電路RC正弦波振蕩; 13、集成功率放大器; 14、整流濾波與并聯(lián)穩(wěn)壓電路; 
15、串聯(lián)穩(wěn)壓電路; 16、集成穩(wěn)壓電路; 17、RC正弦波振蕩器; 
18、LC振蕩器及選頻放大器; 19、電流/電壓轉(zhuǎn)換電路; 20、電壓/頻率轉(zhuǎn)換電路; 
21、互補(bǔ)對稱功率放大器; 22、波形變換電路 
(三)電路分析基本實驗: 
1、常用電子元件的特性認(rèn)識(2、3端元件); 2、伏安特性的測試; 
3、受控源特性的研究; 4、R、C電路特性; 
5、1、2階電路的瞬態(tài)(時域)響應(yīng); 6、雙口網(wǎng)絡(luò)的研究。 
(四)EDA實驗內(nèi)容 
space.gif (51 bytes) 1、單元電路設(shè)計實驗: 
(1)常用門電路設(shè)計; (2)編碼器/譯碼器設(shè)計; (3)觸發(fā)器及時序電路設(shè)計; 
(4)同步/異步計數(shù)器設(shè)計; (5)鍵盤掃描實驗; (6)加法器實驗 
space.gif (51 bytes) 2、綜合設(shè)計實驗: 
(1)SSI組合電路的設(shè)計與冒險競爭觀察;(2)MSI組合電路的設(shè)計; 
(3)可讀寫寄存器的設(shè)計。 
space.gif (51 bytes) 3、 研究創(chuàng)新實驗: 
(1)數(shù)字頻率計; (2)數(shù)字電子鐘設(shè)計; (3)十字路口交通燈自動控制器的設(shè)計; 
(4)出租車計費(fèi)器的設(shè)計;(5)數(shù)字濾波器設(shè)計; (6)DAC、ADC模型設(shè)計; 
(7)數(shù)字模擬綜合系統(tǒng)設(shè)計 
四、TKK-SAE數(shù)電/摸電/EDA綜合實驗系統(tǒng)實驗系統(tǒng)配置 
1、數(shù)電/模電/EDA實驗箱一臺(含電源) 2、交流電源線一根 
3、在系統(tǒng)邏輯可編程模塊一塊(或多塊選配) 4、在系統(tǒng)模擬可編程模塊一塊(多塊選配) 
5、并行下載電纜一根 6、模擬電路實驗板一塊(多塊選配) 
7、電壓表棒一支 8、實驗指導(dǎo)書一套 
9、實驗導(dǎo)線若干根

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